低溫試驗(yàn)
項(xiàng)目介紹及試驗(yàn)?zāi)康?/span>
低溫測試的目的是檢驗(yàn)樣品能否在長期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制,是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性和耐久性、低溫下材料的物理化學(xué)性能。
低溫條件下樣品的失效模式:產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、催化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。
溫濕度循環(huán)箱
低溫的影響
使材料發(fā)硬變脆,潤滑劑粘度增加,流動(dòng)能力降低,潤滑作用減小,電子元器件性能發(fā)生變化,水冷凝結(jié)冰,密封件失效,材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。
應(yīng)用范圍
低溫測試主要用于科研研究、醫(yī)療用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫試驗(yàn)及儲(chǔ)存
參考標(biāo)準(zhǔn)
測試參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T2423.1-2008、IEC 60068-2-1:2007、GJB150. 4A-2009、GJB4.3-83、GJB4 4-83、GJB367A-2001、GB/T13543-92等